XRF鍍層測厚儀,應用于金屬表面處理

XRF 鍍層測厚儀利用 X 射線熒光分析法（EDXRF），通過微型 X 射線管發射高能射線束照射樣品，激發鍍層原子內層電子躍遷并釋放特征 X 射線熒光 。儀器通過高分辨率探測器捕獲熒光信號的能量及強度，結合基本參數法（FP 法）或標準曲線法計算出鍍層厚度 。??

?無損非接觸測量?：測量過程無需接觸樣品表面，不會造成劃傷或損傷，適合精密元件檢測 。

?多層同步分析?：支持單層、雙層及多層鍍層的同時分析，部分機型可同時測定最多 5 層鍍層及 15 種以上元素 。

?自動化功能?：現代儀器通常配備自動激光對焦、XYZ 全自動樣品臺及 CCD 攝像定位系統，可實現微小區域的精確觀測與批量自動測量 。??

測量范圍與精度指標

該儀器的測量能力覆蓋多種金屬鍍層，具體參數因型號配置而異，通用技術指標如下：

?元素與厚度范圍?：

?分析元素?：通常覆蓋從鈦（Ti）到鈾（U）的元素，包括金、銀、鎳、銅、錫、鋅、鉻等常見鍍層金屬 。

?厚度量程?：通用測量范圍約為 0.03 微米至 50 微米，例如鍍金層可測 0.03-6μm，鍍鎳層可測 0.5-30μm 。??